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美国磁通QQI 磁粉探伤试片

简要描述:美国磁通I 磁粉探伤试片是带有人工缺陷的标准磁粉检测试片。用于:将激磁次数降至Z少,以提高生产效率;确定磁场方向和相对的磁场强度;平衡多向磁场。

  • 产品型号:KSC-230
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新日期:2023-12-04
  • 访  问  量:1673
详情介绍

美国磁通I 磁粉探伤试片

I试片
定量品质试片
I是带有人工缺陷的标准磁粉检测试片。用于:将激磁次数降至zui少,以提高生产效率;确定磁场方向和相对的磁场强度;平衡多向磁场。
标准I试片
缺陷成基园和十字交叉条形,用于纵向和轴向磁场。
 型号:KSC-430 标准I试片,缺陷深度为试片厚度的30%,试片厚度为0.004英寸。

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